【無線通訊射頻IC之量產測試原理】四月一日（四） 本課程目標主要在介紹射頻IC測試基本原理, 並藉由探討現今無線通訊應用之射頻IC的測試需求,來導入完整正確的射頻IC測試觀念.另外對於射頻IC量產測試時使用之ATE機台, 相對於實驗室bench射頻測試儀器,兩者測試方法原理之差異性亦有深入淺出的說明. 修課條件：大學理工背景畢業，曾修過電子學、電路學，或相關從業人員 講師： Agilent資深工程師 柯映華小姐 課程綱要： 1.射頻IC測試簡介 2.S參數&傳輸線(Transmission Line) 原理 3.射頻IC之量產測試原理v.s.Bench測試原理 4.射頻IC之非線性/失真分析 5.射頻IC之雜訊指數量測 6.射頻IC之ACPR量測 7.射頻IC之相位雜訊量測 8.射頻IC之數位調變分析 9.如何測試射頻transceiver IC- Cellular/WLAN/Bluetooth 相關資料連結： http://edu.tcfst.org.tw/query_coursedetail.asp?courseidori=93W072